一种检测赫尔-肖氏薄板中颗粒孔隙率的试验装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种检测赫尔‑肖氏薄板中颗粒孔隙率的试验装置，包括密封摄影棚、赫尔‑肖氏盛颗粒玻片架、无影灯、CCD相机和数据处理系统；赫尔‑肖氏盛颗粒玻片架上安装有N个赫尔‑肖氏盛颗粒玻片；N个赫尔‑肖氏盛颗粒玻片是厚度相同，但其中的颗粒试样的密实度不一样；无影灯设置在赫尔‑肖氏盛颗粒玻片架的正上方，CCD相机设置在赫尔‑肖氏盛颗粒玻片的正下方并通过通讯接口与数据处理系统相连；数据处理系统包括安装在一台计算机中的图像识别软件，用于接收、记录和处理来自于CCD相机的数据，并以图片的透光程度作为判别指标来辨别统一厚度薄颗粒层的孔隙率。可用于检验赫尔‑肖氏薄板中干燥颗粒试样的密实程度及其均匀性。
基本信息
专利标题 ：
一种检测赫尔-肖氏薄板中颗粒孔隙率的试验装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020229808.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-02-29
授权号 ：
CN212031246U
授权日 ：
2020-11-27
发明人 ：
郑刚佟婧博张天奇张晓凯邱惠敏
申请人 ：
天津大学
申请人地址 ：
天津市津南区海河教育园雅观路135号天津大学北洋园校区
代理机构 ：
天津市北洋有限责任专利代理事务所
代理人 ：
李丽萍
优先权 ：
CN202020229808.8
主分类号 ：
G01N15/08
IPC分类号 ：
G01N15/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/08
测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或孔隙表面积
法律状态
2020-11-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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