一种首饰用样品测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种首饰用样品测试装置，包括：测试平台，设有载样部和微调部，载样部设有承载样品以供检测光束照射该样品进行检测的至少一测样位，测样位配置有能够在测样位横向支撑测样的支撑部；载样部安装在微调部上方以能够在载样部的带动下进行横向移动以调节测样位的横向位置；支架，设置在测试平台下方，能够进行升降移动以带动测试平台沿竖向远离或靠近检测器光源。本实用新型能够对多种形状的样品的不同部位进行测试，使用极其方便，通过升降移动能够快速到达样品测试位置，横向调节以达到测试样品不同位置的目的，实现精准测量的效果。
基本信息
专利标题 ：
一种首饰用样品测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020045493.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-01-08
授权号 ：
CN211553820U
授权日 ：
2020-09-22
发明人 ：
刘雪松黄准李建军赵潇雪燕菲李桂华
申请人 ：
山东省计量科学研究院
申请人地址 ：
山东省济南市历下区千佛山东路28号
代理机构 ：
中山奇昱专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
黄国清
优先权 ：
CN202020045493.1
主分类号 ：
G01N23/223
IPC分类号 ：
G01N23/223 G01N23/2204
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2020-09-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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