光子电路中的光学温度测量
公开
摘要
涉及光子电路中的光学温度测量。利用其自身要被监测的光子器件的温度相关频谱特性、或者被放置在其附近的单独的光学温度传感器的温度相关频谱特性，光子电路组件的温度测量可以被光学地测量。通过支持对个体光子器件的温度的测量而不是仅仅对整体光子电路的温度的测量，这样的光学温度测量可以提供更精确的温度信息并且帮助改进热设计。
基本信息
专利标题 ：
光子电路中的光学温度测量
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114383749A
申请号 ：
CN202011560101.6
公开（公告）日 ：
2022-04-22
申请日 ：
2020-12-25
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
C·巴纳德J·帕克
申请人 ：
瞻博网络公司
申请人地址 ：
美国加利福尼亚州
代理机构 ：
北京市金杜律师事务所
代理人 ：
马明月
优先权 ：
CN202011560101.6
主分类号 ：
G01K11/00
IPC分类号 ：
G01K11/00 G02B6/42 G02B6/12 G02B6/122
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01K
温度测量；热量测量；未列入其他类目的热敏元件
G01K11/00
不包括在G01K3/00，G01K5/00，G01K7/00或G01K9/00各组的以物理或化学变化为基础的温度测量
法律状态
2022-04-22 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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