一种无感电机的堵转测试方法

授权

摘要

本发明公开一种无感电机的堵转测试方法，涉及电机堵转测试技术领域；包括以下步骤：S1、控制无感电机接收启动信号；S2、控制无感电机进入开环启动模式启动直至电机的转子转速达到闭环转速阈值Sp_OpenToClose；S3、控制无感电机进入闭环启动模式启动；S4、控制电机的转子受阻，进入堵转测试模式；S5、实施堵转测试；S6、释放转子，堵转测试完成，无感电机进入闭环启动模式启动。本发明的无感电机的堵转测试方法，填补了无感电机的堵转测试来满足美国标准UL的空白，使得无感电机在堵转测试过程中的温度不会过高并且一旦转子释放，无感电机能够稳定的继续运行，不会出现停机或者卡顿的现象。

基本信息

专利标题：

一种无感电机的堵转测试方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN112578280A

申请号：

CN202011498290.9

公开（公告）日：

2021-03-30

申请日：

2020-12-17

授权号：

CN112578280B

授权日：

2022-05-27

发明人：

黄立伟陈焰强施奕洲蓝文鑫付国强李兴祥

申请人：

珠海泰芯半导体有限公司

申请人地址：

广东省珠海市高新区唐家湾镇金唐路1号港湾1号科创园2栋3-4层

代理机构：

广东朗乾律师事务所

代理人：

闫有幸

优先权：

CN202011498290.9

主分类号：

G01R31/34

IPC分类号：

G01R31/34

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01R

测量电变量；测量磁变量

G01R31/34

•电机的测试

法律状态

2022-05-27 ：

授权

2021-04-16 ：

实质审查的生效

IPC(主分类) : G01R 31/34
申请日 : 20201217

2021-03-30 ：

公开

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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