半导体结构及半导体结构制作方法
实质审查的生效
摘要
本发明实施例属于半导体制作技术领域,涉及一种半导体结构及半导体结构制作方法,用于解决外部连接层容易与栅极导体层或者其他导电膜层之间发生漏电,进而影响半导体结构性能的问题。该半导体结构的栅介质层设置在衬底和导电层之间,衬底包括同层设置的半导体基底以及绝缘基底,导电层包括在衬底上的投影覆盖半导体基底的栅极导体层、以及在衬底上的投影覆盖绝缘基底的外部连接层,栅极导体层、栅介质层以及半导体基底构成晶体管结构,外部连接层朝向衬底的底面上设置有凹槽,凹槽内填充有绝缘体;设置在凹槽内的绝缘体可以减小外部连接层的体积,进而避免外部连接层与其他的导电膜层之间发生漏电,提高了半导体结构的性能。
基本信息
专利标题 :
半导体结构及半导体结构制作方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114446955A
申请号 :
CN202011219025.2
公开(公告)日 :
2022-05-06
申请日 :
2020-11-04
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
马经纶
申请人 :
长鑫存储技术有限公司
申请人地址 :
安徽省合肥市经济开发区空港工业园兴业大道388号
代理机构 :
北京同立钧成知识产权代理有限公司
代理人 :
张娜
优先权 :
CN202011219025.2
主分类号 :
H01L27/108
IPC分类号 :
H01L27/108 H01L21/8242
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27/00
由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27/02
包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27/04
其衬底为半导体的
H01L27/10
在重复结构中包括有多个独立组件的
H01L27/105
包含场效应组件的
H01L27/108
动态随机存取存储结构的
法律状态
2022-05-24 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 27/108
申请日 : 20201104
申请日 : 20201104
2022-05-06 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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