一种高精度双测头量块比较仪的装配精度调整方法

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摘要

本发明公开一种高精度双测头量块比较仪的装配精度调整方法，包括步骤：a、粗调上、下测头；b、根据标准量块调整两测头，使两测头具有一定的预压量；c、粗调上测头调节组件的微调件，使得上测头与标准量块上表面的垂直度误差小于微调件的最大调整范围；d、调整第一工作台在X和Y轴方向上移动，上测头在X和Y轴方向上行程内的所有示值波动量均小于一定值；e、调整第一工作台在X和Y轴方向上移动，下测头在X和Y轴方向上的行程内的所有示值波动量均小于一定值；f、移除标准量块，调节上、下测头测帽相接触，沿X轴方向对上测头调节组件的微调件调节，沿Y轴方向对下测头调节组件的微调件调节，达到要求后，将二者分别固定于量块比较仪上。

基本信息

专利标题：

一种高精度双测头量块比较仪的装配精度调整方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN112304267A

申请号：

CN202011165068.7

公开（公告）日：

2021-02-02

申请日：

2020-10-27

授权号：

CN112304267B

授权日：

2022-04-08

发明人：

刘渤许文成

申请人：

深圳市勤丽华铖科技有限公司

申请人地址：

广东省深圳市龙华区民治街道新牛社区民治街道新牛路港深国际中心445

代理机构：

深圳市中科创为专利代理有限公司

代理人：

冯建华

优先权：

CN202011165068.7

主分类号：

G01B21/02

IPC分类号：

G01B21/02