一种面向模拟IC有源器件的对称约束检测方法及系统
授权
摘要
本发明给出了一种面向模拟IC有源器件的对称约束检测方法及系统，包括根据模拟IC的网表，对两个MOS器件之间的连接权重使用变量表示并对变量进行赋值，根据网表中两个MOS器件之间的连接状态使用所述变量进行编码，得到器件互连矢量，根据预设的初层基块互连矢量编码查找表识别出模拟IC初层基块的对称约束关系；根据得到的初层基块检测得到两两相邻的初层基块，求出两个相邻的初层基块的互连矢量，并根据预设的高层基块互连矢量编码查找表检测出模拟IC中高层基块中具有对称约束的器件组。本发明能在模拟IC网表层级中有效的检测出模拟IC中有源器件的对称约束，对于模拟IC版图设计提供了更加准确的对称约束指导。
基本信息
专利标题 ：
一种面向模拟IC有源器件的对称约束检测方法及系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN112287633A
申请号 ：
CN202011160909.5
公开（公告）日 ：
2021-01-29
申请日 ：
2020-10-27
授权号 ：
CN112287633B
授权日 ：
2022-05-20
发明人 ：
李琳刘浩杰郭东辉
申请人 ：
厦门大学
申请人地址 ：
福建省厦门市思明区思明南路422号
代理机构 ：
厦门福贝知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
陈远洋
优先权 ：
CN202011160909.5
主分类号 ：
G06F30/398
IPC分类号 ：
G06F30/398
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/398
设计验证或优化，例如：使用设计规则检查、布局与原理图或有限元方法
法律状态
2022-05-20 ：
授权
2021-02-23 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 30/398
申请日 : 20201027
申请日 : 20201027
2021-01-29 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
