量子点发光二极管测试装置及其校准方法
实质审查的生效
摘要

本发明涉及电子器件测试设备技术领域,提供一种量子点发光二极管测试装置及其校准方法,上述量子点发光二极管测试装置包括用于放置量子点发光二极管的座体,盖设于座体上的盖体,设置于盖体上的多个调节件,以及设于盖体与座体之间并且用于安装探测器件的安装板,安装板与各调节件相连接,各调节件分别用于驱动安装板朝靠近或远离量子点发光二极管的方向移动,上述量子点发光二极管测试装置中的安装板可进行平行度调节,从而有效消除因制造精度低而引起不同的量子点发光二极管测试装置中的探测器件与量子点发光二极管的相对位置的差异,保证不同的量子点发光二极管测试装置的一致性,以确保量子点发光二极管性能测试的准确性。

基本信息
专利标题 :
量子点发光二极管测试装置及其校准方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114264925A
申请号 :
CN202010977322.7
公开(公告)日 :
2022-04-01
申请日 :
2020-09-16
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
柳春美洪佳婷芦子哲贺晓光严围
申请人 :
武汉国创科光电装备有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市经济技术开发区川江池二路28号3号楼A503室
代理机构 :
深圳中一联合知识产权代理有限公司
代理人 :
陈卓宏
优先权 :
CN202010977322.7
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26  G01R35/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-04-19 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/26
申请日 : 20200916
2022-04-01 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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