检测方法、检测装置及存储介质
公开
摘要
本发明实施例提供一种检测方法、检测装置及存储介质。其中，所述方法包括：构建待测目标的初始状态模型，其中，所述待测目标内布设有预设形状图案的光纤，所述初始状态模型用于评估所述待测目标初始状态的应变分布；构建所述待测目标的监测状态模型，所述检测状态模型用于评估所述待测目标当前状态的应变分布；根据所述监测状态模型和所述初始状态模型检测所述待测目标并生成对应的检测结果。本发明所提供的检测方法可以较为准确测量出待测目标的健康状态，以根据待测目标的健康状态做出及时的预警或采取处理措施。
基本信息
专利标题 ：
检测方法、检测装置及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114264245A
申请号 ：
CN202010975256.X
公开（公告）日 ：
2022-04-01
申请日 ：
2020-09-16
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
赵猛鲍忠超曹永杰牛盛
申请人 ：
中兴通讯股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦
代理机构 ：
深圳市力道知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
张传义
优先权 ：
CN202010975256.X
主分类号 ：
G01B11/16
IPC分类号 ：
G01B11/16
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/16
用于计量固体的变形，例如光学应变仪
法律状态
2022-04-01 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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