一种双框架同轴检测装置
授权
摘要
一种双框架同轴检测装置，包括主轴、第一轴承、轴承挡圈、第二轴承、锁紧挡圈、底座、轴承压块、测量立杆、销轴、连接套筒、连接环、锁紧把手、杠杆表支架、杠杆千分表、压紧立杆、压紧横杆、固定销、固定螺母，能够实现同时检测内、外框架的同轴度，适用于多种规格双框架结构的同轴度检测，解决了双框架结构中两个框架同轴旋转驱动过程中容易出现框架抖动影响精度甚至损坏框架的问题，实用性强，结构稳定，操作简单。
基本信息
专利标题 ：
一种双框架同轴检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111829419A
申请号 ：
CN202010574621.6
公开（公告）日 ：
2020-10-27
申请日 ：
2020-06-22
授权号 ：
CN111829419B
授权日 ：
2022-06-03
发明人 ：
江俊张建坤苏建平李晓哲胡百振刘懿刘青彭豪梁啸宇
申请人 ：
上海航天控制技术研究所
申请人地址 ：
上海市闵行区中春路1555号
代理机构 ：
中国航天科技专利中心
代理人 ：
陈鹏
优先权 ：
CN202010574621.6
主分类号 ：
G01B5/252
IPC分类号 ：
G01B5/252
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
G01B5/20
用于计量轮廓或曲率
G01B5/22
球径仪
G01B5/252
用于测量偏心度，即两个平行轴之间的横向偏移
法律状态
2022-06-03 ：
授权
2020-11-13 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 5/252
申请日 : 20200622
申请日 : 20200622
2020-10-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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