高时间分辨、高灵敏度、多谱段响应的X射线测试系统

授权

摘要

本发明公开了一种高时间分辨、高灵敏度、多谱段响应的X射线测试系统，该系统具有时间分辨率高、可测谱段多、电磁兼容强、信噪比高以及全光纤高带宽的远程传输优势。其具体结构包括光强调制组件、可调谐光纤激光器、第一单模光纤、光纤环形器、第二单模光纤、第三单模光纤、光电探测器以及示波器；光强调制组件包括套筒、设置在套筒内的滤波片以及法布里‑波罗腔干涉型半导体；可调谐光纤激光器出射的连续激光通过第一单模光纤、光纤环形器、第二单模光纤入射至法布里‑波罗腔干涉型半导体内；经法布里‑波罗腔干涉型半导体进行光强调整后的激光光束传输至光电探测器进行光电信号转换，最终产生的电信号被示波器接收。

基本信息

专利标题：

高时间分辨、高灵敏度、多谱段响应的X射线测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN111562608A

申请号：

CN202010280601.8

公开（公告）日：

2020-08-21

申请日：

2020-04-10

授权号：

CN111562608B

授权日：

2022-05-20

发明人：

高贵龙何凯闫欣汪韬尹飞田进寿辛丽伟贾祥志吴永程张杰刘冲李少辉刘毅恒

申请人：

中国科学院西安光学精密机械研究所

申请人地址：

陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号

代理机构：

西安智邦专利商标代理有限公司

代理人：

唐沛

优先权：

CN202010280601.8

主分类号：

G01T1/36

IPC分类号：

G01T1/36