光脉冲测试方法和光脉冲测试装置
实质审查的生效
摘要
本发明提供光脉冲测试方法和光脉冲测试装置，目的在于提出在DAS‑P中，在考虑了测定距离与可测定的振动频率的上限的折衷选择的基础上，用于测定作为目标的振动频率的频率复用数的最小值N的设计方法。在被测定光纤的任意区间的相位变化A×sin(2πfvt)时，如果A小于π/2，则N＝4Zfv/ν，如果A为π/2以上，则N＝2Zfv/(ν·Arcsin(π/2A))。其中，fv是振动频率，t是时间，Z是所述被测定光纤的长度(测定距离)，ν是所述被测定光纤内的光速。
基本信息
专利标题 ：
光脉冲测试方法和光脉冲测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114556058A
申请号 ：
CN201980101274.0
公开（公告）日 ：
2022-05-27
申请日 ：
2019-10-17
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
胁坂佳史饭田大辅押田博之
申请人 ：
日本电信电话株式会社
申请人地址 ：
日本东京
代理机构 ：
北京信慧永光知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
李成必
优先权 ：
CN201980101274.0
主分类号 ：
G01H9/00
IPC分类号 ：
G01H9/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01H
机械振动或超声波、声波或次声波的测量
G01H9/00
应用对辐射敏感的装置，例如光学装置，测量机械振动或超声波、声波或次声波
法律状态
2022-06-14 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01H 9/00
申请日 : 20191017
申请日 : 20191017
2022-05-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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