一种同步测量码盘装置
授权
摘要
本实用新型涉及一种同步测量码盘装置，所述同步测量码盘装置包括电机、测量码盘及采集装置，所述测量码盘包括第一码盘及第二码盘，所述第一码盘与所述第二码盘为相互啮合的齿轮，且所述第一码盘与所述电机的输出轴连接；所述第一码盘上开设有多个第一信号开槽，多个所述第一信号开槽围设于所述第一码盘中心且贯穿所述第一码盘，所述第二码盘上开设有多个第二信号开槽，多个所述第二开槽围设于所述第二码盘的中心，且贯穿所述第二码盘；所述采集装置设置于所述第一码盘及所述第二码盘的边沿。
基本信息
专利标题 ：
一种同步测量码盘装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922493295.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-31
授权号 ：
CN211452381U
授权日 ：
2020-09-08
发明人 ：
方正
申请人 ：
武汉中创融科科技股份有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市汉阳区龙阳大道42号龙阳凯悦大厦A栋A单元16层4室
代理机构 ：
武汉智嘉联合知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
江慧
优先权 ：
CN201922493295.1
主分类号 ：
G01D5/36
IPC分类号 ：
G01D5/36 G01B11/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01D
非专用于特定变量的测量；不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置；计费设备；非专用于特定变量的传输或转换装置；未列入其他类目的测量或测试
G01D5/00
用于传递传感构件的输出的机械装置；将传感构件的输出变换成不同变量的装置，其中传感构件的形式和特性不限制变换装置；非专用于特定变量的变换器
G01D5/26
采用光学装置，即应用红外光、可见光或紫外光
G01D5/32
利用光束的减弱或者全部或局部的闭塞
G01D5/34
利用光电元件检测光束
G01D5/36
将光线形成脉冲
法律状态
2020-09-08 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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