一种用于小粒径散体物料恢复系数测定的装置
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摘要
一种用于小粒径散体物料恢复系数测定的装置，属于检测仪器技术领域，解决小粒径散体物料恢复系数测定装置使用不方便的技术问题，支撑架的下方竖直向下设置有碰撞板固定杆，支撑架的上方竖直向上设置有活动升降杆，碰撞板固定杆与活动升降杆同轴设置，碰撞板底座固定安装在碰撞板固定杆的下端部，碰撞板底座与碰撞板固定杆轴线方向之间的夹角为45度，活动升降杆的上端部固定安装投料基准面，投料基准面上设置有投料孔，落点记录装置包括砂层和垫板。本实用新型结构简单，可调整物料的下落高度范围为340mm～690mm，适用于测定不同颗粒的小粒径石子、不同粒径的谷物、小粒径药丸、金属球等的恢复系数。
基本信息
专利标题 ：
一种用于小粒径散体物料恢复系数测定的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922406798.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-27
授权号 ：
CN211740975U
授权日 ：
2020-10-23
发明人 ：
孙静鑫杨丽琴司海涛郭玉明崔清亮
申请人 ：
运城学院
申请人地址 ：
山西省运城市复旦西街1155号
代理机构 ：
太原市科瑞达专利代理有限公司
代理人 ：
赵禛
优先权 ：
CN201922406798.0
主分类号 ：
G01N15/00
IPC分类号 ：
G01N15/00 G01M7/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
法律状态
2020-10-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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