一种新型多面磁瓦检测设备
授权
摘要
一种新型多面磁瓦检测设备，包括送料机构，所述送料机构位于检测区两侧设置有若干立柱，检测区上方设置有环形光源座，所述环形光源座通过连接件固定在至少一个立柱上，所述环形光源座上沿圆周设置有光源，立柱上安装有对准检测区的相机，送料机构上位于检测区进料位置安装有位置传感器，本实用新型可实现零件的侧面、端面同步检测的功能，适用连续和断续多种来料方式，检测效率高，占用空间小，工作性能稳定，降低更多机械及电气结构带来的不确定性。
基本信息
专利标题 ：
一种新型多面磁瓦检测设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922402166.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-27
授权号 ：
CN211318236U
授权日 ：
2020-08-21
发明人 ：
赵曙光苏建林
申请人 ：
杭州听物科技有限公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市余杭区五常街道五常大道158号1幢3层306、307室
代理机构 ：
杭州华知专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
束晓前
优先权 ：
CN201922402166.7
主分类号 ：
G01N21/892
IPC分类号 ：
G01N21/892 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/89
在移动的材料中，例如，纸张、织物中
G01N21/892
特征在于待测的瑕疵、缺陷或物品的特点
法律状态
2020-08-21 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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