一种用于液晶介电常数测试仪放置架
授权
摘要
本实用新型提供一种用于液晶介电常数测试仪放置架，包括测试仪主体、橡胶吸盘、密封柱、空心支撑架、放置架体、卡紧弹簧、锥形卡板、放置凸台、导向滑轮以及密封板，测试仪主体下端面设置有放置架体，放置架体下端面固定有空心支撑架，空心支撑架右端面连接有密封柱，空心支撑架下端面粘接有橡胶吸盘，空心支撑架上端面连接有密封板，放置架体内部下侧安装有导向滑轮，导向滑轮右侧安装有放置凸台，放置架体内部左侧安装有锥形卡板，锥形卡板左端面连接有卡紧弹簧，该设计解决了原有用于液晶介电常数测试仪放置不稳定的问题，本实用新型结构合理，便于组合安装，放置稳定，使用效果好。
基本信息
专利标题 ：
一种用于液晶介电常数测试仪放置架
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922328072.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-23
授权号 ：
CN211374892U
授权日 ：
2020-08-28
发明人 ：
冯波叶伟成黄敏光
申请人 ：
深圳市英赛测试技术有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙华区大浪街道同胜社区华繁路同富裕工业园二期龙泉科技工业区A区A3层
代理机构 ：
深圳众邦专利代理有限公司
代理人 ：
郭晓宇
优先权 ：
CN201922328072.X
主分类号 ：
G01R27/26
IPC分类号 ：
G01R27/26 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量
G01R27/26
电感或电容的测量；品质因数的测量，例如通过应用谐振法；损失因数的测量；介电常数的测量
法律状态
2020-08-28 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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