用于流场诊断的快速荧光寿命成像系统
授权
摘要
本实用新型提供了一种用于流场诊断的快速荧光寿命成像系统,解决现有荧光寿命成像技术成像时间分辨率低和帧率低的问题。该系统包括脉冲激光器、片光整形装置、流场发生装置、滤波片、分幅相机及数据处理装置;脉冲激光器同时发射激光脉冲和电信号,片光整形装置用于将激光脉冲整形为片光;流场发生装置用于提供待测目标流场,待测目标流场经片光照射后发射荧光信号;滤波片用于透过荧光信号并滤除杂散信号;分幅相机包括同步控制装置和四台门控相机,同步控制装置控制四台门控相机的曝光时间门及延时;电信号触发分幅相机进行曝光获得四分幅图像;数据处理装置用于接收分幅相机捕获的四分幅图像并处理四分幅图像,得到荧光寿命图像并显示。
基本信息
专利标题 :
用于流场诊断的快速荧光寿命成像系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922276897.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-17
授权号 :
CN211825691U
授权日 :
2020-10-30
发明人 :
李亚晖高贵龙何凯田进寿
申请人 :
中国科学院西安光学精密机械研究所
申请人地址 :
陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
代理机构 :
西安智邦专利商标代理有限公司
代理人 :
董娜
优先权 :
CN201922276897.1
主分类号 :
G01N21/64
IPC分类号 :
G01N21/64 G01M10/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光;磷光
法律状态
2020-10-30 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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