一种转接样品托组件及真空互联系统
授权
摘要
本实用新型属于真空机械领域,公开一种转接样品托组件及真空互联系统。转接样品托组件包括圆形样品托和旗形样品托,圆形样品托上设有至少一个与旗形样品托可拆卸连接的固定组件,固定组件包括卡座、第一弹性夹紧件和第二弹性夹紧件。卡座包括两个间隔设置的卡缝,旗形样品托相对的两侧分别卡入两个卡缝中;第一弹性夹紧件将旗形样品托卡入卡缝的两侧夹紧,且其上开设有两个相对的避让孔;第二弹性夹紧件的两端分别伸入避让孔并将旗形样品托卡入卡缝的两侧夹紧;第一弹性夹紧件受力张开时,带动第二弹性夹紧件进一步夹紧旗形样品托,第二弹性夹紧件受力张开时,带动第一弹性夹紧件进一步夹紧旗形样品托。本实用新型能在传送过程中防止发生掉样。
基本信息
专利标题 :
一种转接样品托组件及真空互联系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922252964.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-16
授权号 :
CN211374573U
授权日 :
2020-08-28
发明人 :
陈爱喜陈志敏丁孙安陆晓鸣芮芳凌小伦李坊森王利
申请人 :
中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
申请人地址 :
江苏省苏州市苏州工业园区独墅湖高教区若水路398号
代理机构 :
北京品源专利代理有限公司
代理人 :
胡彬
优先权 :
CN201922252964.6
主分类号 :
G01N23/20025
IPC分类号 :
G01N23/20025 G01N23/2204
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构,例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统;其配件;样品制备
G01N23/20025
样品固定架或支架
法律状态
2020-08-28 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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