辐射温度计检定校准装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种一种辐射温度计检定校准装置及其操作方法，该装置包括支架体、第一夹具以及第二夹具，所述第一夹具包括底座、支撑部、第一滑杆、第二滑杆、第一夹条、第二夹条以及调节机构，所述支撑部与调节机构均设于底座上，所述第一夹条的一端与第一滑杆连接，另一端与支撑部连接，所述第二夹条的一端与第二滑杆连接，另一端与支撑部连接，所述第一夹条、第二夹条以及支撑部之间构成夹持空间，所述第一滑杆以及第二滑杆均与调节机构连接，所述第一夹具以及第二夹具均与支架体的移动机构连接。该辐射温度计检定校准装置能夹持各种形状的温度计，提高辐射温度计检定校准装置的适用范围，并有利于提高测量的准确性。
基本信息
专利标题 ：
辐射温度计检定校准装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922249878.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-13
授权号 ：
CN210953115U
授权日 ：
2020-07-07
发明人 ：
蔡永洪梁满兵吴珍菊
申请人 ：
广州计量检测技术研究院
申请人地址 ：
广东省广州市黄埔区科学城尖塔山路19号
代理机构 ：
广州广典知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
谢伟
优先权 ：
CN201922249878.X
主分类号 ：
G01J5/00
IPC分类号 ：
G01J5/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J5/00
辐射高温测定法
法律状态
2020-07-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
