一种紫外探测设备用调节装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种紫外探测设备用调节装置，包括底座和调节装置，所述底座的内部固定连接支撑柱，所述支撑柱为圆柱型，顶面为倒锥形，中央对称轴位置设为圆面，支撑柱的侧面上端转动连接有转轴一，转轴一的外侧套接有底盘，底盘的左侧铰接有探测设备，所述铰接位置安装有数显角度测量仪，用于显示当时的探测设备的角度，底盘的顶面上侧固定连接有固定柱，本实用新型结构简单，可以实现三百六十度的旋转和角度调整，通过数显角度测量仪方便的读取数据，通过旋钮精确的调整挡光板的位置，调节方便，并通过测量前的较正，保证了每次测量的准确度，中途可以通过换镜片方便的更换透光滤镜。
基本信息
专利标题 ：
一种紫外探测设备用调节装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922143044.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-03
授权号 ：
CN211504396U
授权日 ：
2020-09-15
发明人 ：
杨斌贾志强杨理玲
申请人 ：
安瑞创新半导体（深圳）有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区白石路3609号深圳湾科技生态园二区9栋A2708
代理机构 ：
北京劲创知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
张铁兰
优先权 ：
CN201922143044.0
主分类号 ：
G01J1/04
IPC分类号 ：
G01J1/04 G01J1/42
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法，例如照相的曝光表
G01J1/02
零部件
G01J1/04
光学或机械部件
法律状态
2020-09-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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