一种电力半导体器件生产用检测装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种电力半导体器件生产用检测装置，涉及检测装置领域，针对现有的外观检测多为人工检测，检测效率低，且检测结果准确度低的问题，现提出如下方案，其包括传送台，所述传送台上安装有传送辊，所述传送辊的上侧摆放有传送座板，所述传送座板的上部转动连接有称重盘，传送台的总部安装有检测室，所述检测室的外壁安装有控制面板，检测室的一侧内壁上安装有检测摄像头，检测室的顶部安装有旋转电机和语音警报器，旋转电机的输出轴穿过检测室连接有吊板。本实用新型先后对待测半导体器件进行称重和360度的外观拍摄对比的检测，双重保证，提高了检测效率以及检测结果的准确性和可靠度。
基本信息
专利标题 ：
一种电力半导体器件生产用检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922116946.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-02
授权号 ：
CN211206283U
授权日 ：
2020-08-07
发明人 ：
张志平
申请人 ：
襄阳斯迈克电气有限公司
申请人地址 ：
湖北省襄阳市高新区追日路9号汉北工业园1幢3楼
代理机构 ：
六安众信知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
鲁晓瑞
优先权 ：
CN201922116946.5
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2020-08-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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