一种用于芯片抗功耗分析攻击的降温装置
授权
摘要
本实用新型提供了一种用于芯片抗功耗分析攻击的降温装置,属于芯片检测技术领域,包括箱体,所述箱体底部安装有立板,箱体上方中部开设有与芯片相适应的安装槽,所述安装槽底部设置有高度调节组件,安装槽侧面设置有芯片压紧组件,箱体内部还设置有排风腔室,排风腔室底部一侧通过排风孔与安装槽相通,排风腔室上部通过排风口与外界相通;所述箱体底部还设置有气流分布器。本实用新型实施例具有降温效果好、散热均匀以及芯片取放方便的优点,通过在安装槽内部设置高度调节组件以及压紧组件,可对芯片进行固定,使得芯片在进行抗功耗分析攻击检测时保持稳定,并且在芯片检测完毕后通过高度调节组件将芯片顶出至安装槽外部,以便芯片的拿取。
基本信息
专利标题 :
一种用于芯片抗功耗分析攻击的降温装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921947916.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-11-13
授权号 :
CN211603447U
授权日 :
2020-09-29
发明人 :
魏盘生
申请人 :
上海灏谷集成电路技术有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区川沙路1098号8幢
代理机构 :
上海汇齐专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
童强
优先权 :
CN201921947916.2
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28 G01R1/04 G01R1/44
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-09-29 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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