测量装置以及系统

授权

摘要

本申请涉及激光测距领域，具体而言，涉及一种测量装置以及系统。该装置包括第一激光测距仪、第二激光测距仪以及测角仪处理器。第一激光测距仪和第二激光测距仪均连接于测角仪，并且第一激光测距仪和第二激光测距仪的激光发射点重叠于测角仪。处理器用于接收第一距离信号、第二距离信号以及角度信号；并计算第一点与第二点之间的距离。该装置和系统能够利用三角形定理，计算获得待测量物体上的第一点和第二点之间的距离，然后根据第一点和第二点生成测量轨迹，从而得到待测量物体的形状。

基本信息

专利标题：

测量装置以及系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921941282.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-11-11

授权号：

CN211786100U

授权日：

2020-10-27

发明人：

王振兴

申请人：

深圳市度彼电子有限公司

申请人地址：

广东省深圳市光明新区公明办事处田寮社区光明高新园西区七号侨德科技园厂房B栋六楼

代理机构：

北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)

代理人：

严诚

优先权：

CN201921941282.X

主分类号：

G01S17/08

IPC分类号：

G01S17/08 G01S17/48 G01S7/481