FPGA功能测试装置
授权
摘要
本实用新型实施例提供了一种FPGA功能测试装置，其特征在于，包括上位机和FPGA功能测试板；其中，FPGA功能测试板上设置有接口芯片与待测的FPGA，所述接口芯片分别与上位机和待测的FPGA连接，上位机中存储的测试程序经接口芯片配置至待测FPGA，FPGA的测试结果经接口芯片回传至上位机。
基本信息
专利标题 ：
FPGA功能测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921931515.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-07
授权号 ：
CN211979128U
授权日 ：
2020-11-20
发明人 ：
项宗杰胡小海楼建设孔泽斌徐导进
申请人 ：
上海精密计量测试研究所
申请人地址 ：
上海市闵行区元江路3888号
代理机构 ：
上海航天局专利中心
代理人 ：
余岢
优先权 ：
CN201921931515.8
主分类号 ：
G01R31/317
IPC分类号 ：
G01R31/317
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/317
••数字电路的测试
法律状态
2020-11-20 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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