一种基于多探头球面近场天线测试系统结构
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摘要
一种基于多探头球面近场天线测试系统结构，包括：环状分布探头阵列、被测天线、用于放置被测天线的多轴天线测试转台；所述环状分布探头阵列包括多个探头阵列形成的圆环，且所述多个探头均指向圆环的圆心，所述圆环垂直于水平面；所述圆环的形状包括具有开口的圆环，所述圆环包括多个探头非均匀分布的第一探头区域，所述第一探头区域设于所述开口的临近处；通过在传统的环状分布探头阵列的底部将探头非等间距排布，对天线测试的极端区域有更良好的测试效果。
基本信息
专利标题 ：
一种基于多探头球面近场天线测试系统结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921806419.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-25
授权号 ：
CN211603353U
授权日 ：
2020-09-29
发明人 ：
范勇张佳莺陈宇钦
申请人 ：
上海益麦电磁技术有限公司
申请人地址 ：
上海市杨浦区国泰路11号1层展示厅A262室
代理机构 ：
上海申浩律师事务所
代理人 ：
房平木
优先权 ：
CN201921806419.0
主分类号 ：
G01R29/10
IPC分类号 ：
G01R29/10 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/08
电磁场特性的测量
G01R29/10
天线的辐射图
法律状态
2020-09-29 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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