一种SOE分辨率测试仪
授权
摘要
本实用新型属于SOE分辨率测试仪技术领域且公开了一种SOE分辨率测试仪，MCU用于发出来信号；逻辑控制电路用于接收所述MCU发来的信号；逻辑控制电路包括KOUT；MCU发来的信号经过KOUT并传输至逻辑芯片U140，逻辑芯片U140并通过DO输出，经光耦隔离后，再由端子外接被测试装置的遥信回路。本实用新型利用MCU发出控制指令，驱动外面的逻辑电路，通过光耦隔离，实现快速输出反应，很好的提高了抗干扰能力，操作简单，用一两千元的成本轻松实现原价值几万的设备所拥有的功能。
基本信息
专利标题 ：
一种SOE分辨率测试仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921732604.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-15
授权号 ：
CN211374910U
授权日 ：
2020-08-28
发明人 ：
陶富明舒亿兵
申请人 ：
云谷技术（珠海）有限公司
申请人地址 ：
广东省珠海市高新区唐家湾镇科技一路66号三号厂房一层
代理机构 ：
广州鼎贤知识产权代理有限公司
代理人 ：
刘莉梅
优先权 ：
CN201921732604.X
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-08-28 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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