一种增加接口板的DAC高速线缆用测试板
授权
摘要
本实用新型公开了一种增加接口板的DAC高速线缆用测试板，包括主控MCU单元、电源电路、USB接口电路、一级接口电路、SFP接口电路和状态指示电路，所述电源电路与主控MCU单元相连，USB接口电路接在主控MCU单元的接口上，一级接口电路接在主控MCU单元的接口上，SFP接口电路接在一级接口电路的接口上，状态指示电路与电源电路、主控MCU单元相连。本增加接口板的DAC高速线缆用测试板，在不断电的情况下可快速切换SFP、QSFP等不同接口，以完成不同封装类型线缆的测试；通过在主控MCU上接USB接口电路，通过USB接口电路可与PC端连接，通过外接LCD显示屏显示测试状态，且可通过USB供电；可插接不同接口板，实现对多种类型产品测试，接口板更换方便。
基本信息
专利标题 ：
一种增加接口板的DAC高速线缆用测试板
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921721080.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-15
授权号 ：
CN210835112U
授权日 ：
2020-06-23
发明人 ：
何正强聂海洋
申请人 ：
武汉英飞光创科技有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷二路以东，高新五路以南鼎杰现代机电信息孵化园一期第8栋6层1号
代理机构 ：
北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
傅海鹏
优先权 ：
CN201921721080.4
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-06-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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