测量装置
授权
摘要
一种测量装置，包括底座及设于所述底座上的定位机构，所述定位机构用于定位工件，所述底座上设有定位孔，所述测量装置还包括测量机构，所述测量机构包括第一测量模组，所述第一测量模组可滑动地设于所述底座上，所述第一测量模组包括固定杆，所述固定杆与所述定位孔可适配。本实用新型的测量装置测量准确。
基本信息
专利标题 ：
测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921674267.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-08
授权号 ：
CN211601769U
授权日 ：
2020-09-29
发明人 ：
胡科刘建张轩杨钊
申请人 ：
鸿富锦精密电子（成都）有限公司
申请人地址 ：
四川省成都市高新西区合作路888号
代理机构 ：
深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司
代理人 ：
龚慧惠
优先权 ：
CN201921674267.3
主分类号 ：
G01B5/00
IPC分类号 ：
G01B5/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
法律状态
2020-09-29 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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