编带电容的测试装置
授权
摘要
本实用新型提供了一种编带电容的测试装置，该测试装置包括机体(1)，所述机体(1)上设置有可推动所述编带电容(4)移动的推进单元(6)，用于测试所述编带电容(4)中电容性能的测试单元(2)，可用于切除编带电容(4)引脚(41)的切脚单元(3)，以及控制器。该测试装置中通过设置推进单元，对测试的编带电容可自动实现编带推进，节省了人力劳动，实现了自动化。
基本信息
专利标题 ：
编带电容的测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921612820.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-24
授权号 ：
CN211148802U
授权日 ：
2020-07-31
发明人 ：
胡辉辉张靖房涛廖珂杨慧丽康扬罗兴涛刘爽
申请人 ：
格力电器（武汉）有限公司;珠海格力电器股份有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市经济技术开发区东风大道888号
代理机构 ：
北京聿宏知识产权代理有限公司
代理人 ：
吴大建
优先权 ：
CN201921612820.0
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R31/01 G01R31/12 G01R27/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-07-31 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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