一种光纤耦合器测试用光纤夹结构
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摘要

本实用新型公开了一种光纤耦合器测试用光纤夹结构,包括光纤夹底座以及光纤压盖,光纤夹底座的上部设置有沿光纤夹底座长度方向布置的V型槽,光纤压盖的底部与光纤夹底座的上部配合紧贴,光纤压盖的底部与V型槽的两侧壁共同形成一个用于挤压光纤的挤压腔。当光纤放入至V型槽内后,光纤压盖的底部在光纤上部施加压力,同时,V型槽的两侧壁对光纤的左右两侧提供斜向上的压力,光纤在V型槽以及光纤压盖的共同作用下,实现牢固的夹紧。该种夹紧方式类似于三爪式的夹紧,对光纤尺寸的精准度要求不高,即使光纤的圆度不够精准,也可以很好的实现光纤的夹紧,进而确保性能测试的精准度。

基本信息
专利标题 :
一种光纤耦合器测试用光纤夹结构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921428718.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-08-29
授权号 :
CN210347075U
授权日 :
2020-04-17
发明人 :
郭征东姚建杜永建刘祖俊智健
申请人 :
广州奥鑫通讯设备有限公司
申请人地址 :
广东省广州市江埔街河东北路93号
代理机构 :
广州嘉权专利商标事务所有限公司
代理人 :
任毅
优先权 :
CN201921428718.5
主分类号 :
G01M11/02
IPC分类号 :
G01M11/02  G02B6/36  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2020-04-17 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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