一种提高弱光检测灵敏度的电路系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种提高弱光检测灵敏度的电路系统，将微弱光信号和一个已知的光信号叠加成一个成形光信号，然后依次经过光电转换装置S、ADC采样装置和主控制器MCU后，恢复所述微弱光信号。本实用新型技术方案采用将被测量的光电传感器产生的微弱光信号和一个已知的光信号进行叠加成一个成形光信号，然后经过光电转换、ADC采样和计算处理从采集数据中恢复其弱信号。本实用新型方案在不改变原光电传感器装置和ADC的分辨率基础上能使光电传感器的分辨能力得到明显提高，提高了对弱光检测的灵敏度，该方法可行性强，有较高的实用价值，同时对弱光信号的检测开辟了一个可靠且成本低廉的技术解决方案。
基本信息
专利标题 ：
一种提高弱光检测灵敏度的电路系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921403946.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-27
授权号 ：
CN210833861U
授权日 ：
2020-06-23
发明人 ：
刘佰祥刘跃武朱辉
申请人 ：
深圳市迈铭科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区福海街道桥头社区富桥一区吉安泰工业园厂房3栋301
代理机构 ：
武汉大楚知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
徐员兰
优先权 ：
CN201921403946.7
主分类号 ：
G01J1/44
IPC分类号 ：
G01J1/44
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法，例如照相的曝光表
G01J1/42
采用电辐射检测器
G01J1/44
电路
法律状态
2020-06-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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