一种用于单晶衍射测试的尼龙环样品座
授权
摘要

本实用新型提供一种用于单晶衍射测试的尼龙环样品座,包括底座和尼龙环连接件,所述尼龙环连接件固定连接于所述底座上方,所述尼龙环连接件包括尼龙环和连接体,所述尼龙环位于所述连接体上方。相比于现有技术,本实用新型结构简单、取材方便极易获得、实用性强,可用于放置单晶衍射测试用的多种样品,特别是对于蛋白质等性质不稳定的样品,将在溶液中的样品用尼龙环捞出,直接测样,样品包裹着母液,不仅可以维持样品的性质,而且减少衍射背景;可以实现快速制样。此外,本实用新型成本低,远远低于目前市场其他类型样品座,且灵活性高可根据实验人员的需要随时制作出符合自己实验需求的尼龙环。

基本信息
专利标题 :
一种用于单晶衍射测试的尼龙环样品座
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921334561.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-08-16
授权号 :
CN210665552U
授权日 :
2020-06-02
发明人 :
徐君严子耳张慧芬
申请人 :
天津大学
申请人地址 :
天津市南开区卫津路92号
代理机构 :
天津市北洋有限责任专利代理事务所
代理人 :
潘俊达
优先权 :
CN201921334561.X
主分类号 :
G01N23/20025
IPC分类号 :
G01N23/20025  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构,例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统;其配件;样品制备
G01N23/20025
样品固定架或支架
法律状态
2020-06-02 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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