一种用于磨削加工的光学测量系统
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摘要
本实用新型公开了一种用于磨削加工的光学测量系统，包括照明光源、承物台、投影光学组件、显示屏、计算机，待加工工件放置在承物台上，磨削加工时，照明光源照明待加工工件，投影光学组件将待加工工件的图像投射在显示屏的显示平面上；计算机控制显示平面显示预存的工件参考标尺图形，并定位在定位基线上，将工件参考标尺图形与待加工工件的投影进行比对，根据比对信息调整磨削加工设备的位移，进行磨削加工。本实用新型对投影物镜倍率的要求相对宽松，在透明显示屏上可快速完成标定和调整，能够很好满足高精度的工件磨削加工对在线检测的要求。
基本信息
专利标题 ：
一种用于磨削加工的光学测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921180616.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-25
授权号 ：
CN210650205U
授权日 ：
2020-06-02
发明人 ：
马国欣
申请人 ：
广州市宇欣光电子技术研究所有限公司
申请人地址 ：
广东省广州市番禺区南村镇番禺大道北383号写字楼7栋804房
代理机构 ：
广州市华学知识产权代理有限公司
代理人 ：
刘巧霞
优先权 ：
CN201921180616.6
主分类号 ：
B24B49/12
IPC分类号 ：
B24B49/12 G01B11/24
相关图片
IPC结构图谱
B
B部——作业；运输
B24
磨削；抛光
B24B
用于磨削或抛光的机床、装置或工艺（用电蚀入B23H；磨料或有关喷射入B24C；电解浸蚀或电解抛光入C25F3/00；磨具磨损表面的修理或调节；磨削，抛光剂或研磨剂的进给
B24B49/00
用于控制磨具或工件进给运动的测量或校准装置；指示或测量装置的布置，如用于指示磨削加工开始的
B24B49/12
使用光学装置
法律状态
2020-06-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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