一种转台重心与转轴中心偏离量测量结构
授权
摘要
本专利公开了一种转台重心与转轴中心偏离量测量结构。测量结构包括测量主支撑，撑角一，撑角二，撑角三，电子秤一，电子秤二，电子秤三，水平尺一，水平尺二；撑角一、撑角二及撑角三分别各通过螺纹与测量主支撑连接，撑角一放置在电子秤一测量面中心位置，撑角二放置在电子秤二测量面中心位置，撑角三放置在电子秤三测量面中心位置。本专利结构合理、简单、紧凑，通过撑角质量测量差值计算转台重心与转轴中心偏离量，测量方法简便易行，成本低，使用方便，适于各种一维转台、特别是体积及质量巨大的转台使用。
基本信息
专利标题 ：
一种转台重心与转轴中心偏离量测量结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921070780.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-10
授权号 ：
CN210269019U
授权日 ：
2020-04-07
发明人 ：
周潘伟孙建邦刘士建李范鸣
申请人 ：
中国科学院上海技术物理研究所
申请人地址 ：
上海市虹口区玉田路500号
代理机构 ：
上海沪慧律师事务所
代理人 ：
郭英
优先权 ：
CN201921070780.1
主分类号 ：
G01M1/12
IPC分类号 ：
G01M1/12 G01B21/24
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M1/06
••被测试物体所采用的驱动装置
G01M1/12
静态平衡；重心位置的测定
法律状态
2020-04-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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