结点探测装置

授权

摘要

本申请公开了一种结点探测装置，该装置包括：探头，所述探头包括地雷探测模块和x/γ核辐射探测模块；所述地雷探测模块用于检测半导体探测物，所述x/γ核辐射探测模块用于探测核辐射强度，所述x/γ核辐射探测模块集成于所述地雷探测模块的下表面。本申请提供的结点探测装置，不仅能够检测半导体探测物，而且能够同时对环境辐射剂量进行实时探测，且x/γ核辐射探测模块体积小，保证了在不改变结点探测装置整体外观的情况下，增加了核辐射探测功能，提高了便携性，且成本低，有很强的适用性。

基本信息

专利标题：

结点探测装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920977771.4

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-06-26

授权号：

CN210720741U

授权日：

2020-06-09

发明人：

王标刘泽华张宁邹燕梅张玉包于景泽

申请人：

北京高能新技术有限公司;长春市泽安科技有限公司

申请人地址：

北京市石景山区实兴东街18号院1号楼3层302室

代理机构：

北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

郭栋梁

优先权：

CN201920977771.4

主分类号：

G01T1/202

IPC分类号：

G01T1/202