一种大尺寸外观模组屏全检系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种大尺寸外观模组屏全检系统，包括架体；架体上固定设有PCB检测单元、3D检测单元、Panle相机单元、COF检测单元、Panle光源单元。本实用的有益效果是：根据大尺寸模组屏幕产品上不同部分的分布，设置针对不同部位的检测，能够全方面的对大尺寸模组屏幕外观进行全面检测，替代传统的人工检测方式，大大压缩了大尺寸模组屏外观检测工序所需的时间，提高了生产效率，起到了良好的效果。
基本信息
专利标题 ：
一种大尺寸外观模组屏全检系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920870872.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-06-11
授权号 ：
CN210534020U
授权日 ：
2020-05-15
发明人 ：
罗慧峰陈雪峰李士龙
申请人 ：
北京兆维智能装备有限公司
申请人地址 ：
北京市朝阳区酒仙桥路14号兆维工业园B区B5栋
代理机构 ：
北京轻创知识产权代理有限公司
代理人 ：
吴东勤
优先权 ：
CN201920870872.1
主分类号 ：
G01N21/956
IPC分类号 ：
G01N21/956
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
G01N21/956
检测物品表面上的图案
法律状态
2020-05-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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