一种新型封装二极管的电性能测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种新型封装二极管的电性能测试装置，包括：两个相配合的固定块，固定块之间通过螺杆连接；以及多个测试探针，各测试探针一端均与封装二极管的引脚接触，另一端与数字源表连通；其中，固定块内均布设置有多个安装孔，各测试探针分别滑动设置于各所述安装孔内。采用本实用新型的封装二极管的测试装置，使测试探针能够根据实际封装二极管引脚的大小进行适应性调节安装，扩大使用范围，提高适应性与利用率。
基本信息
专利标题 ：
一种新型封装二极管的电性能测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920845685.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-06-05
授权号 ：
CN210109253U
授权日 ：
2020-02-21
发明人 ：
范晓鹏陈培专李劼魏昌华高翔
申请人 ：
绵阳金能移动能源有限公司
申请人地址 ：
四川省绵阳市涪城区凤凰中路8号
代理机构 ：
北京远大卓悦知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
贾晓燕
优先权 ：
CN201920845685.8
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01R1/04 G01R1/073
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2020-02-21 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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