一种用于矩形被测物的几何量精密测量装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种用于矩形被测物的几何量精密测量装置,涉及几何量精密测量技术领域,包括底座,所述底座的上表面固定安装有固定装置,所述固定装置的一侧平行设置有放置装置,所述固定轴套接安装在活动套筒内,所述活动套筒的上表面和下表面固定安装有锁紧装置,所述连接件的一端固定设置有连接筒,所述连接筒的上表面固定安装有工作箱,且连接筒的下表面固定设置有测杆,所述测杆的底部固定安装有测帽,通过设置锁紧装置,有利于将固定轴与活动套筒之间进行有效地紧固,防止在测量的过程中由于测量装置的不稳固导致测量的失误,且只需通过螺纹旋转即可调节活动套筒的高度,也可以将活动套筒进行锁紧,操作简单。

基本信息
专利标题 :
一种用于矩形被测物的几何量精密测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920593937.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-04-26
授权号 :
CN209588896U
授权日 :
2019-11-05
发明人 :
曾建光管炳良
申请人 :
重庆大学;九江如洋精密科技有限公司
申请人地址 :
重庆市沙坪坝区沙正街174号
代理机构 :
苏州拓云知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
潘好帅
优先权 :
CN201920593937.2
主分类号 :
G01B5/00
IPC分类号 :
G01B5/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
法律状态
2019-11-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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