一种二极管引脚整型检测装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种二极管引脚整型检测装置，包括整形检测平台，整形检测平台正面的一侧固定安装有两个对称的引脚夹具，整形检测平台正面的中部固定安装有折弯凸块，整形检测平台正面的另一侧固定安装有三个并列的导向件，三个并列的导向件的内部均螺纹连接有折弯丝杆，折弯丝杆的另一端与二极管引脚相接触，本实用新型的有益效果是设有的卡合板和压缩弹簧，便于引脚夹具夹持不同直径的引脚，增广整形检测装置的使用范围，设有的第一检测标尺、角度测量显示器和第二检测标尺，便于检测引脚折弯后的折弯角度，提高引脚整形的一致性，设有的折弯角警报器，便于提示操作人员，避免折弯过度导致引脚损坏。
基本信息
专利标题 ：
一种二极管引脚整型检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920537013.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-19
授权号 ：
CN209470652U
授权日 ：
2019-10-08
发明人 ：
孔凡伟段花山
申请人 ：
山东晶导微电子股份有限公司
申请人地址 ：
山东省济宁市曲阜市春秋东路166号
代理机构 ：
济宁汇景知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
刘丽
优先权 ：
CN201920537013.0
主分类号 ：
G01B5/24
IPC分类号 ：
G01B5/24
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/24
•用于计量角度或锥度；用于轴线准直检测
法律状态
2019-10-08 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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