一种高密度LED电路板测试架
专利权的终止
摘要
本实用新型公开了一种高密度LED电路板测试架,包括第一测试治具和第二测试治具,第一测试治具和第二测试治具均包括针盘和线盘,线盘包括线盘穿线板和支撑板;第一测试治具位于线盘穿线板和支撑板之间设置有多个第一支撑柱,第一支撑柱位于第一测试治具的布线区域内;第二测试治具位于线盘穿线板和支撑板之间设置有多个第二支撑柱,第二支撑柱位于第二测试治具的布线区域内,且第二支撑柱在布线区域内的覆盖区域位于第一支撑柱在布线区域内的覆盖区域之外。本装置既保证了线盘穿线板的平面度,同时也避免了第一支撑柱或第二支撑柱所带来的干涉LED电路板检测区域的问题。
基本信息
专利标题 :
一种高密度LED电路板测试架
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920470665.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-04-09
授权号 :
CN209878819U
授权日 :
2019-12-31
发明人 :
李长生唐李红田德琴刘波高炳林方笑求
申请人 :
湖南省方正达新材料科技有限公司
申请人地址 :
湖南省岳阳市平江县平江工业园区伍市工业园
代理机构 :
长沙朕扬知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
文立兴
优先权 :
CN201920470665.7
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04 G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2022-04-05 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01R 1/04
申请日 : 20190409
授权公告日 : 20191231
终止日期 : 20210409
申请日 : 20190409
授权公告日 : 20191231
终止日期 : 20210409
2019-12-31 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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