一种用于超声波测厚仪的耦合剂添加装置
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种用于超声波测厚仪的耦合剂添加装置,涉及超声波测厚仪耦合剂添加装置领域,超声波测厚仪是工业、工程上经常使用的检测金属厚度的设备之一,其原理时利用超声波在金属表面和底面回波的时间差来检测金属的厚度。由于金属表面并非平整和光滑,在检测时通常需要涂抹耦合剂来认为的平整金属表面及阻隔空气,以达到较为理想的测量环境。本实用新型提供了一种用于超声波测厚仪的耦合剂添加装置,和超声波测厚仪结合使用,测量时直接使用本实用新型涂抹耦合剂,解决了当所测金属有较大的倾斜角度时,耦合剂在测量前会流动,导致分布不均匀的问题,同时,也解决了通常需要先涂抹耦合剂再测量,大大耽误测量的效率的问题。

基本信息
专利标题 :
一种用于超声波测厚仪的耦合剂添加装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920405213.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-03-28
授权号 :
CN209945289U
授权日 :
2020-01-14
发明人 :
王国威王辉熙
申请人 :
王国威
申请人地址 :
甘肃省武威市凉州区科技巷4号5室
代理机构 :
成都弘毅天承知识产权代理有限公司
代理人 :
汤春微
优先权 :
CN201920405213.0
主分类号 :
G01B17/02
IPC分类号 :
G01B17/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B17/00
以采用次声波、声波、超声波振动为特征的计量设备
G01B17/02
用于计量厚度
法律状态
2021-03-12 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01B 17/02
申请日 : 20190328
授权公告日 : 20200114
终止日期 : 20200328
2020-01-14 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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