一种深度测量装置及测量方法
授权
摘要

本发明公开了一种深度测量装置,包括发射单元、接收单元、以及控制与处理电路;其中,发射单元发射脉冲光束投射至目标区域;接收单元包括有TOF图像传感器和变焦透镜,TOF图像传感器采集目标区域反射回的至少部分光束中的光子并形成光子信号,变焦透镜将反射光束投射到TOF图像传感器的像素中;控制与处理电路接收光子信号以形成测量直方图,根据测量直方图得到测量波形,将测量波形与预存储的参考波形进行匹配计算,根据匹配结果调整变焦透镜的焦距,进而调整TOF图像传感器采集光束的视场角。本发明可以在探测时实时调整传感器的视场角,保证传感器在不同情况下均可接收到有效的响应信号,提高了装置的探测精度。

基本信息
专利标题 :
一种深度测量装置及测量方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN111025318A
申请号 :
CN201911384727.3
公开(公告)日 :
2020-04-17
申请日 :
2019-12-28
授权号 :
CN111025318B
授权日 :
2022-05-27
发明人 :
王兆民
申请人 :
深圳奥比中光科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市南山区粤海街道学府路63号高新区联合总部大厦11-13楼
代理机构 :
深圳汉世知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
田志立
优先权 :
CN201911384727.3
主分类号 :
G01S17/36
IPC分类号 :
G01S17/36  G01S17/89  G01S7/481  G01S7/497  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01S
无线电定向;无线电导航;采用无线电波测距或测速;采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测;采用其他波的类似装置
G01S17/00
应用除无线电波外的电磁波的反射或再辐射系统,例如,激光雷达系统
G01S17/02
应用除无线电波外的电磁波反射的系统
G01S17/06
测定目标位置数据的系统
G01S17/08
只用于测量距离
G01S17/10
应用断续的脉冲调制波的发射
G01S17/36
在接收信号与同时发射信号之间作相位比较
法律状态
2022-05-27 :
授权
2021-02-09 :
著录事项变更
IPC(主分类) : G01S 17/36
变更事项 : 申请人
变更前 : 深圳奥比中光科技有限公司
变更后 : 奥比中光科技集团股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 518000 广东省深圳市南山区粤海街道学府路63号高新区联合总部大厦11-13楼
变更后 : 518000 广东省深圳市南山区粤海街道学府路63号高新区联合总部大厦11-13楼
2020-06-16 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01S 17/36
申请日 : 20191228
2020-04-17 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332