缺陷分类方法、缺陷分类训练方法及其装置
授权
摘要
本公开提供了一种缺陷分类方法，方法包括：从缺陷图像中提取缺陷区域的低层特征；利用缺陷词典，对所述低层特征进行编码，以得到与所述低层特征对应的中层语义特征；基于所述中层语义特征，将所述缺陷图像中的缺陷区域的缺陷分类为多个缺陷类之一，其中，所述缺陷词典包括缺陷类内词典和缺陷类间词典。
基本信息
专利标题 ：
缺陷分类方法、缺陷分类训练方法及其装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110414538A
申请号 ：
CN201910670824.2
公开（公告）日 ：
2019-11-05
申请日 ：
2019-07-24
授权号 ：
CN110414538B
授权日 ：
2022-05-27
发明人 ：
彭项君王云奇赵晨曦薛亚冲李纲吕耀宇张硕楚明磊陈丽莉张浩
申请人 ：
京东方科技集团股份有限公司;北京京东方光电科技有限公司
申请人地址 ：
北京市朝阳区酒仙桥路10号
代理机构 ：
北京市柳沈律师事务所
代理人 ：
王娟
优先权 ：
CN201910670824.2
主分类号 ：
G06K9/46
IPC分类号 ：
G06K9/46 G06K9/62 G06T5/00 G06T7/00 G06T7/11 G06T7/136 G06F17/16
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06K
数据识别；数据表示；记录载体；记录载体的处理
G06K9/00
用于阅读或识别印刷或书写字符或者用于识别图形，例如，指纹的方法或装置
G06K9/36
图像预处理，即无须判定关于图像的同一性而进行的图像信息处理
G06K9/46
图像特征或特性的抽取
法律状态
2022-05-27 ：
授权
2019-11-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06K 9/46
申请日 : 20190724
申请日 : 20190724
2019-11-05 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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