一种基于光学芯片基底的显微光谱测量装置及方法
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摘要

本发明公开了一种基于光学芯片基底的显微光谱测量装置及方法,装置包括:照明激光光源、扩束镜头、近端激光反射镜、聚焦显微物镜、宽光谱耦合载物光学芯片、收集显微镜、二向色镜、成像镜头和CCD图像传感器。方法如下:制备具有色散功能的宽光谱耦合载物光学芯片;照明激光光源发出的激光被扩束后经近端反射镜和聚焦显微物镜反射聚焦到芯片上的待测物体;待测分子所发出的信号将被束缚于宽光谱耦合载物光学芯片的表面并以多个角度向下出射,被收集显微物镜接收、二向色镜反射后,再被成像镜头成像于图像传感器,计算得出待测物体的光谱信号。本发明解决了传统光谱测量中收集速度慢,分析效率低的技术问题。

基本信息
专利标题 :
一种基于光学芯片基底的显微光谱测量装置及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110398479A
申请号 :
CN201910647452.1
公开(公告)日 :
2019-11-01
申请日 :
2019-07-17
授权号 :
CN110398479B
授权日 :
2022-04-08
发明人 :
陈漪恺陈芙莲张璐丁彬轩沈中华
申请人 :
南京理工大学
申请人地址 :
江苏省南京市孝陵卫200号
代理机构 :
南京理工大学专利中心
代理人 :
张祥
优先权 :
CN201910647452.1
主分类号 :
G01N21/64
IPC分类号 :
G01N21/64  G01N21/65  G01N21/25  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光;磷光
法律状态
2022-04-08 :
授权
2019-11-26 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/64
申请日 : 20190717
2019-11-01 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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