基于介质谱的超导电缆PPLP绝缘检测方法及系统
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摘要
本发明涉及一种基于介质谱的超导电缆PPLP绝缘检测方法及系统，其中的检测方法包括以下步骤：S1、对试品施加不同频率的激励电压，通过测量试品的电压和电流，计算不同频率下试品的阻抗值、复电容和介质损耗；S2、根据复电容、介质损耗以及对应的频率，获取试品的老化程度，即试品的绝缘检测结果。与现有技术相比，本发明是在不同的频率点上对PPLP的复电容、介质损耗进行测量计算，通过频率曲线的绘制以及拟合比对，评估试品的老化程度，能全面有效的对PPLP绝缘性能进行检测。
基本信息
专利标题 ：
基于介质谱的超导电缆PPLP绝缘检测方法及系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110208662A
申请号 ：
CN201910549193.9
公开（公告）日 ：
2019-09-06
申请日 ：
2019-06-24
授权号 ：
CN110208662B
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
李红雷刘家妤焦婷张智勇陆小虹
申请人 ：
国网上海市电力公司;华东电力试验研究院有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区源深路1122号
代理机构 ：
上海科盛知识产权代理有限公司
代理人 ：
叶敏华
优先权 ：
CN201910549193.9
主分类号 ：
G01R31/12
IPC分类号 ：
G01R31/12 G01R27/26 G01R27/08
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/12
•测试介电强度或击穿电压
法律状态
2022-04-05 ：
授权
2019-10-08 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/12
申请日 : 20190624
申请日 : 20190624
2019-09-06 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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