用于离子分离的系统和方法
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摘要

一种用于分析样品的系统包括源;迁移率分离器,其被配置成基于气体中的迁移率分离离子;多个离子通道;和质量分析器。所述迁移率分离器包括跨越第一和第二壁之间的通路的二维电极栅格。所述第一和第二壁分别包括入口孔和多个出口孔。所述二维电极栅格被配置成在所述通路内产生电场。所述多个离子通道邻近所述多个出口孔布置。在所述入口孔和所述多个出口孔之间的离子移动由所述电场和通过到所述第一和第二壁之间的所述通路的气流管控,使得所述离子基于所述离子的相应迁移率被分类并且被引导到不同的通道。

基本信息
专利标题 :
用于离子分离的系统和方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110660639A
申请号 :
CN201910537678.6
公开(公告)日 :
2020-01-07
申请日 :
2019-06-20
授权号 :
CN110660639B
授权日 :
2022-04-15
发明人 :
M·V·乌加罗夫
申请人 :
萨默费尼根有限公司
申请人地址 :
美国加利福尼亚州
代理机构 :
上海专利商标事务所有限公司
代理人 :
陈洁
优先权 :
CN201910537678.6
主分类号 :
H01J49/42
IPC分类号 :
H01J49/42  H01J49/06  
相关图片
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01J
放电管或放电灯
H01J49/00
粒子分光仪或粒子分离管
H01J49/26
质谱仪或质量分离管
H01J49/34
动态分光仪
H01J49/42
轨迹稳定型分光仪,如单极的、四极的、多极的、线振质谱仪型的
法律状态
2022-04-15 :
授权
2020-02-04 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01J 49/42
申请日 : 20190620
2020-01-07 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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