一种用于集成系统的测试方法及装置
授权
摘要

本发明公开了一种用于集成系统的测试方法,包括:获取基于国产环境的集成系统的测试对象;将所述测试对象匹配测试标准包含的测试内容,获得所述测试对象的测试项;针对不同的测试项设计不同的测试方法,以及设计不同的测试用例;将发生测试活动的触发事件,匹配对应的测试方法,使用所述测试方法执行与所述触发事件相关的测试用例,输出所述触发事件的测试结果,解决了基于国产环境的集成系统是一整套集成产品组合,集成环境内任何一个组件的变动都有可能影响整个集成环境的使用,存在由于测试覆盖度低,影响测试质量的问题。

基本信息
专利标题 :
一种用于集成系统的测试方法及装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN109376076A
申请号 :
CN201811107881.1
公开(公告)日 :
2019-02-22
申请日 :
2018-09-21
授权号 :
CN109376076B
授权日 :
2022-04-29
发明人 :
蒋广慧范红霞吴建青刘强国威苑忠霞
申请人 :
华迪计算机集团有限公司
申请人地址 :
北京市海淀区杏石口路甲18号航天信息园1号楼西区三层
代理机构 :
北京工信联合知识产权代理有限公司
代理人 :
胡秋立
优先权 :
CN201811107881.1
主分类号 :
G06F11/36
IPC分类号 :
G06F11/36  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测;错误校正;监控
G06F11/36
通过软件的测试或调试防止错误
法律状态
2022-04-29 :
授权
2019-03-19 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/36
申请日 : 20180921
2019-02-22 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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