用于重现仪器的校准凭证的方法和系统
授权
摘要
本发明涉及用于从电子仪器重现所述仪器的校准凭证的方法和系统。电子仪器具有至少一个电子存储部件。方法包括以下步骤：‑ 将校准凭证数据分成第一子集的数据和第二子集的数据，该第一子集的数据是校准特定的，该第二子集的数据是文档描述性的，‑ 限定关于第二子集的数据的元数据集；‑ 将第一子集的数据和元数据集存储在仪器的电子存储部件中；‑ 将第二子集的数据存储在与电子仪器分离的计算设备中；‑ 通过将第一子集的数据和元数据集上传到计算设备并且从上传的第一子集的数据、元数据集和第二子集的数据重建校准凭证来重现校准凭证（代表图：图1）。
基本信息
专利标题 ：
用于重现仪器的校准凭证的方法和系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN107423332A
申请号 ：
CN201710248680.2
公开（公告）日 ：
2017-12-01
申请日 ：
2017-04-17
授权号 ：
CN107423332B
授权日 ：
2022-05-13
发明人 ：
R.基奇
申请人 ：
ABB瑞士股份有限公司
申请人地址 ：
瑞士巴登
代理机构 ：
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 ：
张金金
优先权 ：
CN201710248680.2
主分类号 ：
G06F17/30
IPC分类号 ：
G06F17/30
法律状态
2022-05-13 ：
授权
2018-11-02 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 17/30
申请日 : 20170417
申请日 : 20170417
2017-12-01 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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