存储器诊断系统
授权
摘要
本发明提供一种存储器诊断系统。所述存储器诊断系统包括存储器装置和服务器。存储器装置包括：存储器模块，被配置为响应于参数控制信号调整操作参数；存储器控制器，被配置为响应于反馈信号生成参数控制信号；存储器状态监视器，被配置为监视存储器模块，以生成包括关于存储器模块的状态的信息的信息信号。服务器被配置为响应于信息信号生成反馈信号。
基本信息
专利标题 ：
存储器诊断系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN107134295A
申请号 ：
CN201710066100.8
公开（公告）日 ：
2017-09-05
申请日 ：
2017-02-06
授权号 ：
CN107134295B
授权日 ：
2022-05-03
发明人 ：
金经纶朴起台
申请人 ：
三星电子株式会社
申请人地址 ：
韩国京畿道水原市
代理机构 ：
北京铭硕知识产权代理有限公司
代理人 ：
闫红玉
优先权 ：
CN201710066100.8
主分类号 ：
G11C29/56
IPC分类号 ：
G11C29/56
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/48
专门适用于从外部到存储器的静态存储中的测试装置，例如：用直接存储器存取或者用辅助访问路径
G11C29/56
用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备；所用接口
法律状态
2022-05-03 ：
授权
2018-11-30 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/56
申请日 : 20170206
申请日 : 20170206
2017-09-05 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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