防止插头插座被腐蚀的装置以及浊度测量仪表
专利权的终止
摘要
本实用新型公开了一种防止插头插座被腐蚀的装置、以及一种包括防止插头插座被腐蚀的装置的浊度测量仪表。本实用新型中防治插头插座被腐蚀的装置包括:两端具有开口的套筒,其内部收容有插头和插座;分别封闭套筒两端开口的橡胶塞,其中,每一橡胶塞边缘的任一位置具有朝向中心位置的切缝,且切缝的末端具有一通孔、供连接插头或插座的导线穿过。这样,将插头和插座插接后收容于套筒内,并将连接有插头和插座的导线分别自不同橡胶塞的切缝强行塞入并卡接于该橡胶塞的通孔内,然后将两个橡胶塞的端部分别插入至套筒两端开口,从而将插头和插座封闭于套筒内,使得插头插座不会接触到浊度测量仪表检测腔内的水蒸气,因而不会被腐蚀而变脆断裂。
基本信息
专利标题 :
防止插头插座被腐蚀的装置以及浊度测量仪表
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820123012.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-10-14
授权号 :
CN201282229Y
授权日 :
2009-07-29
发明人 :
郑海燕
申请人 :
中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
申请人地址 :
100176北京市经济技术开发区文昌大道18号
代理机构 :
北京德琦知识产权代理有限公司
代理人 :
王 琦
优先权 :
CN200820123012.3
主分类号 :
H01R13/533
IPC分类号 :
H01R13/533 G01N21/00
法律状态
2018-11-06 :
专利权的终止
专利权有效期届满IPC(主分类) : H01R 13/533
申请日 : 20081014
授权公告日 : 20090729
申请日 : 20081014
授权公告日 : 20090729
2009-07-29 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载